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作者： 昂洋-柯正發(fā)表時(shí)間：2018-07-28 11:36:27瀏覽量：12362【小中大】
貼片電容為什么要進(jìn)行老化處理?貼片電容器的容量隨時(shí)間以對(duì)數(shù)規(guī)律降低(之稱(chēng)之為老化)。然而，如果貼片電容器發(fā)熱溫度高于其介質(zhì)的居里點(diǎn)時(shí)，此時(shí)產(chǎn)生“去老化”現(xiàn)象，即通過(guò)老化發(fā)生的容量降低重新恢復(fù)，當(dāng)電容器恢復(fù)冷卻時(shí)，老化又隨時(shí)間產(chǎn)生。
貼片電容器去老化條件：將貼片電容器放在上限類(lèi)別溫度或按詳細(xì)規(guī)范中可能規(guī)定的更高溫度(150℃)下經(jīng)1h 后，接著在試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)24±1h。
根據(jù)各類(lèi)材質(zhì)隨時(shí)間衰減系數(shù)見(jiàn)以下曲線(xiàn)圖：
貼片電容測(cè)試條件：
項(xiàng)目
Item
技術(shù)規(guī)格
Technical Specification
測(cè)試方法
Test Method Remarks
容量
Capacitance
Ⅰ類(lèi) ClassⅠ
(COG/NPO)
應(yīng)符合指定的誤差級(jí)別
Should be within the specified toleance
標(biāo)稱(chēng)容量
Capacitance
測(cè)試頻率
Measuring Frequency
測(cè)試電壓
Measuring Voltage
≤1000PF
1MHz±10%
1.0V±0.2V
>1000PF
1KHz±10%
1.0V±0.2V
Ⅱ類(lèi) Class Ⅱ
應(yīng)符合指定的誤差級(jí)別
Should be within the specified toleance
C≤10uF 測(cè)試頻率：1KHz±10% 1.0V±0.2V
Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V
C>10uF
X7R X5R Y5V 測(cè)試頻率：120Hz±24Hz 0.5V±0.05V
Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V
測(cè)試溫濕度：25±5℃ 50%-70%
以上是關(guān)于貼片電容為什么要進(jìn)行老化處理的講解，想要了解更多貼片電容知識(shí)，歡迎持續(xù)關(guān)注本站。
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